发明名称 |
用于釜式容器的液位测量系统和方法以及釜式容器 |
摘要 |
本发明提供一种连续测量液位的用于釜式容器的液位测量系统和方法及釜式容器。该系统包括:多个热电阻测温元件,位于釜式容器中,各个热电阻测温元件均匀地分割釜式容器底面与顶面之间的距离;处理器,分别与各个热电阻测温元件电连接,处理器用于:建立关于液位Y与温度t的回归方程;针对每个热电阻测温元件以预定测量时间间隔获取采样温度t,根据采样温度t计算相邻热电阻测温元件之间的温度差T,将温度差T与预定温度差比较,计算相邻热电阻测温元件的温度-时间斜率k并与预定斜率比较,当第i个热电阻测温元件与第i-1个热电阻测温元件的温度差T<sub>i</sub>≥预定温度差且温度-时间斜率k<sub>i</sub>≥预定斜率时,液位Y为<img file="DSA00000318742800011.GIF" wi="732" he="156" />从而实现了连续测量液位。 |
申请公布号 |
CN102455204B |
申请公布日期 |
2013.04.10 |
申请号 |
CN201010519136.5 |
申请日期 |
2010.10.19 |
申请人 |
中国石油化工股份有限公司 |
发明人 |
况丹;王民 |
分类号 |
G01F23/22(2006.01)I;G01K7/16(2006.01)I;B01D3/06(2006.01)I |
主分类号 |
G01F23/22(2006.01)I |
代理机构 |
北京润平知识产权代理有限公司 11283 |
代理人 |
南毅宁;王凤桐 |
主权项 |
1.一种用于釜式容器的液位测量系统,该系统包括:多个热电阻测温元件,位于釜式容器(100)中,各个热电阻测温元件均匀地分割所述釜式容器(100)底面与顶面之间的距离;处理器(200),分别与所述各个热电阻测温元件电连接,该处理器用于:通过回归算法,利用所述热电阻测温元件进行多次采样得到多组温度t与液位Y,多次拟合出回归曲线,建立关于液位Y与温度t的回归方程;针对所述各个热电阻测温元件以预定测量时间间隔获取采样温度t,根据该采样温度t计算相邻热电阻测温元件之间的温度差T并将该温度差T与预定温度差进行比较,利用相邻热电阻测温元件的采样温度差T除以对应的采样时间计算相邻热电阻测温元件之间的温度-时间斜率k并与预定斜率进行比较,当第i个热电阻测温元件与第i-1个热电阻测温元件的温度差T<sub>i</sub>≥所述预定温度差,且温度-时间斜率k<sub>i</sub>≥所述预定斜率时,得到液位Y为<img file="FDA00002673344200011.GIF" wi="736" he="174" />其中ΔL为相邻热电阻测温元件之间的垂直距离,Y<sub>i-1</sub>、Y<sub>i</sub>、以及Y<sub>i</sub>′分别是将第i-1个热电阻测温元件的采样温度t<sub>i-1</sub>、第i个热电阻测温元件的采样温度t<sub>i</sub>以及为所述第i-1个热电阻测温元件的采样温度t<sub>i-1</sub>与所述第i个热电阻测温元件的采样温度t<sub>i</sub>两者平均值的中间温度值t<sub>i</sub>′输入到所述关于液位Y与温度t的回归方程中得到的输出值,其中i为大于1的整数。 |
地址 |
100728 北京市朝阳区朝阳门北大街22号 |