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Verfahren zur Variation der Größe des Scanfeldes eines Laser-Scanning-Mikroskops, mit einer Anzahl S1–SN, N größer 1, in einer Linie angeordneter Beleuchtungsspots die zueinander im Objektivfokus einen Abstand d aufweisen und bei und durch Abrasterung der Probe, wobei eine bildpunktweise Detektion der rasterförmig beleuchteten Bildpunkte erfolgt, wobei eine Abrasterung der Probe durch S1–SN in einer ersten Richtung x zeilenweise erfolgt, wobei in K = 1/d Schritten eines ersten Schrittabstandes k in einer zweiten Richtung schrittweise weitere Zeilen abgetastet werden wodurch einzelnen Spots zugeordnete und zumindest teilweise detektierte Rastergebiete erzeugt werden dadurch gekennzeichnet, dass vorzugsweise unter Beibehaltung der Gesamtanzahl der abgerasterten Bildpunkte das Scanfeld vergrößert wird, indem mit einem zweiten Schrittabstand L kleiner k eine Abrasterung in der zweiten Richtung zeilenweise erfolgt und mindestens für einen Beleuchtungsspot eine zumindest teilweise Wiederholung der Abrasterung seines Rastergebiets, um den Abstand N mal d in der zweiten Richtung versetzt, erfolgt und/oder das Scanfeld verkleinert wird, indem mit einem dritten Schrittabstand p größer k eine Abrasterung in der zweiten Richtung zeilenweise erfolgt und für mindestens einen Beleuchtungsspot eine Abschaltung der Beleuchtung und/oder Abschaltung (Abschwächung) detektierter Bildpunkte zumindest eines Teils seines Rastergebiets erfolgt. |
