发明名称 Verfahren zur Herstellung einer Halbleitereinrichtung mit einem plattenförmigen Schaltungsblock
摘要 Verfahren zum Herstellen einer Halbleitereinrichtung, mit den Schritten:–Ausbilden eines dünnen Schaltungsblocks auf dem Muttersubstrat,–Befestigen von Halbleiterchips auf dem Schaltungsblock,–Ausbilden auf einer Verdrahtungsschicht oder Verbindungsschicht des Schaltungsblocks einer Versiegelungsharzschicht, welche die Halbleiterchips versiegelt,–Separieren oder Trennen des Schaltungsblocks mit den darauf befestigten Halbleiterchips von einer Ablöseschicht, welche auf dem Muttersubstrat ausgebildet ist, zum–Befestigen durch Verbinden des Schaltungsblocks auf einer Hauptoberfläche einer Hauptplatine, wobei der Schritt des Ausbildens des Schaltungsblocks die Schritte aufweist:–Ausbilden der Ablöseschicht auf einer planarisierten Hauptoberfläche des Muttersubstrats,–Ausbilden einer Isolationsschicht auf der Ablöseschicht und–Strukturieren der Verdrahtungsschicht auf der Isolationsschicht, und zwar mit einer Mehrzahl externer Verbindungsbereiche,–bei welchem nach dem Schritt des Ausbildens der Versiegelungsharzschicht und vor dem Schritt des Ablösens des Schaltungsblocks vom Muttersubstrat ein Schritt des Polierens der Halbleiterchips und...
申请公布号 DE10295940(B4) 申请公布日期 2013.04.04
申请号 DE2002195940 申请日期 2002.01.31
申请人 SONY CORP. 发明人 OGAWA, TSUYOSHI;NISHITANI, YUJI;OKUBORA, AKIHIKO
分类号 H01L21/48;H01L21/50;H01L23/12;H05K1/02;H05K1/03;H05K1/09;H05K1/16;H05K1/18;H05K3/00;H05K3/20;H05K3/30;H05K3/46 主分类号 H01L21/48
代理机构 代理人
主权项
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