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Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung des Verschleißes einer mit einem Anodenteller (11) gebildeten Röntgenanode (3). Dabei wird ein Referenzwerte (I_ref(Heel)) für einen Parameter bestimmt, welcher eine durch die Abhängigkeit vom Winkel zwischen mittels der Röntgenanode (3) erzeugter Strahlung (70, 71, 72, 73) und dem Anodenteller (11) beeinflusste Eigenschaft charakterisiert. Nach einer bestimmten Betriebsdauer wird erneut ein Werte (I(Heel)) für den Parameter bestimmt. Durch Vergleichen des bestimmten Parameterwerts (I(Heel)) mit dem Referenzwert (I_ref(Heel)) und Korrelieren der Abweichung des Parameterwertes (I(Heel)) von dem Referenzwert (I_ref(Heel)) mit einem Verschleißzustand der Anode (3) wird der Verschleiß ermittelt. Die Erfindung erlaubt im Wesentlichen ohne Rückgriff auf zusätzliche Apparaturen, die Alterung der Anode (3) zu überwachen.
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