发明名称 取样相位校正方法和使用此取样相位校正方法的储存系统
摘要 一种取样相位校正方法和使用此取样相位校正方法的储存系统,该方法包含:使一储存装置控制器传送一第二命令信号,来读取一储存装置内的一内容;根据该内容,使该储存装置控制器传送一第一命令信号及具有一第三取样相位的一第三数据信号给该储存装置;以及根据该储存装置相对应该第一命令信号及该第三数据信号所响应给该储存装置控制器的一响应信息,来判断该储存装置控制器对该储存装置的数据传输是否有错误,以判断该第三取样相位是否恰当;其中,该第二命令信号使用一第二时钟来传送,该第一命令信号使用一第一时钟来传送,该第二时钟慢于该第一时钟。
申请公布号 CN103021470A 申请公布日期 2013.04.03
申请号 CN201110282245.4 申请日期 2011.09.21
申请人 瑞昱半导体股份有限公司 发明人 林能贤;蒋国兵
分类号 G11C29/48(2006.01)I 主分类号 G11C29/48(2006.01)I
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人 余刚;吴孟秋
主权项 一种取样相位校正方法,包含:使一储存装置控制器传送一第二命令信号,来读取一储存装置内的一内容;根据所述内容,使所述储存装置控制器传送一第一命令信号及具有一第三取样相位的一第三数据信号给所述储存装置;以及根据所述储存装置相对应所述第一命令信号及所述第三数据信号所响应给所述储存装置控制器的一响应信息,来判断所述储存装置控制器对所述储存装置的数据传输是否有错误,以判断所述第三取样相位是否恰当;其中,所述第二命令信号使用一第二时钟来传送,所述第一命令信号使用一第一时钟来传送,所述第二时钟慢于所述第一时钟。
地址 中国台湾新竹