发明名称 无外引脚半导体封装构造及其制造方法与导线架条
摘要 本发明公开一种无外引脚半导体封装构造及其制造方法与导线架条,制造方法是提供一导线架条,包含数条连接支架、数个导线架单元、一内抗蚀预镀金属层及一外抗蚀预镀金属层;每一导线架单元具有数个接点,且内抗蚀预镀金属层覆盖接点及连接支架的一内表面,外抗蚀预镀金属层覆盖接点的一外表面并裸露连接支架的一外表面以定义一切割道;提供一芯片,并将芯片固定在导线架单元的区域内;利用数个电性连接元件连接芯片与接点上的内抗蚀预镀金属层;利用一封装胶材包覆芯片、电性连接元件及内抗蚀预镀金属层;蚀刻切割道,以形成一蚀刻槽,蚀刻槽裸露出内抗蚀预镀金属层;及切割位在切割槽的内抗蚀预镀金属层及封装胶材,以分离成数个封装构造。
申请公布号 CN103021879A 申请公布日期 2013.04.03
申请号 CN201210581590.2 申请日期 2012.12.28
申请人 日月光半导体(昆山)有限公司 发明人 叶勇
分类号 H01L21/50(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I;H01L23/495(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I 主分类号 H01L21/50(2006.01)I
代理机构 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人 翟羽
主权项 一种无外引脚半导体封装构造的制造方法,其特征在于:所述制造方法包含:(a)提供一导线架条,包含一外框、数条连接支架、数个导线架单元、一内抗蚀预镀金属层及一外抗蚀预镀金属层;每一所述导线架单元具有数个接点,且所述内抗蚀预镀金属层覆盖所述接点及所述连接支架的一内表面,所述外抗蚀预镀金属层覆盖所述接点的一外表面并裸露所述连接支架的一外表面以定义一切割道;(b)提供一芯片,并将所述芯片固定在所述导线架单元的区域内;(c)利用数个电性连接元件来电性连接所述芯片与所述接点上的内抗蚀预镀金属层;(d)利用一封装胶材来包覆所述芯片、所述电性连接元件以及所述内抗蚀预镀金属层;(e)蚀刻所述切割道,以形成一蚀刻槽,所述蚀刻槽裸露出所述内抗蚀预镀金属层;及(f)切割位在所述切割槽的内抗蚀预镀金属层及封装胶材,以分离成数个无外引脚半导体封装构造。
地址 215341 江苏省苏州市昆山市千灯镇淞南路373号
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