发明名称 Sample analyzing apparatus
摘要 <p>A sample analyzing apparatus is provided with a memory for storing a schedule of maintenance, a display, and a controller for displaying on the display a screen of calendar format, wherein the screen includes a date display area for displaying a date and a maintenance item display area for displaying a maintenance item scheduled on the date.</p>
申请公布号 EP1986013(A3) 申请公布日期 2013.04.03
申请号 EP20080007843 申请日期 2008.04.23
申请人 SYSMEX CORPORATION 发明人 TAKEHARA, HISATO;WAKAMIYA, YUJI;OKUZAKI, TOMOHIRO
分类号 G01N35/00;G01N37/00 主分类号 G01N35/00
代理机构 代理人
主权项
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