发明名称 Electron beam apparatus
摘要 <p>Tento vynález navrhuje prístroj s elektronovým svazkem obsahující prostredky pro vizualizování osového posunutí zpomalovacího elektrického pole a prostredky pro úpravu osového posunutí. Prostredky pro vizualizování osového posunutí obsahují reflexní desticku (6) a optický systém (2, 3) pro smerování sekundárního elektronového svazku (9) na reflexní desticku (6) a prostredky pro úpravu osového posunutí obsahují mechanismus (8) pro naklápení a otácení stolku (5) na vzorek. S tímto usporádáním lze v prístroji s elektronovým svazkem, napríklad v rastrovacím elektronovém mikroskopu apod., vyloucit takové problémy, jako je posunutí zorného pole zpusobené posunutím osové symetrie elektrického pole mezi cockou (3) objektivu a vzorkem (4) a neschopnost merit sekundární elektrony a odrazené elektrony, které poskytují zádoucí informace.</p>
申请公布号 CZ20130115(A3) 申请公布日期 2013.04.03
申请号 CZ20130000115 申请日期 2011.07.07
申请人 HITACHI HIGH - TECHNOLOGIES CORPORATION 发明人 OHSHIMA TAKASHI;HATANO MICHIO;MORISHITA HIDEO
分类号 H01J37/04;H01J37/20;H01J37/244;H01J37/28 主分类号 H01J37/04
代理机构 代理人
主权项
地址