发明名称 |
一种集成电路气密性封装散热结构 |
摘要 |
本发明涉及一种集成电路气密性封存装散热结构,包括外壳或基板和倒扣焊芯片,所述倒扣焊芯片用软焊料与热沉焊接在一起,热沉的一周与焊框通过钎焊料钎焊在一起;再将焊框与外壳或基板上的密封环焊接在一起,形成气密性封装。所述焊框上可设有一圈凹槽,形成缓冲环,围绕热沉一周。其优点是:本发明在不改变现有封装结构和材料,利用现有组装焊接设备和工艺的情况下,解决了倒扣焊(FC)封装气密性和散热问题。 |
申请公布号 |
CN103021973A |
申请公布日期 |
2013.04.03 |
申请号 |
CN201210535005.5 |
申请日期 |
2012.12.12 |
申请人 |
中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
发明人 |
丁荣峥;李欣燕;高娜燕 |
分类号 |
H01L23/367(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/367(2006.01)I |
代理机构 |
无锡市大为专利商标事务所 32104 |
代理人 |
殷红梅 |
主权项 |
一种集成电路气密性封装散热结构,包括外壳或基板(6)和倒扣焊芯片(5),其特征是:所述倒扣焊芯片(5)用软焊料(4)与热沉(1)焊接在一起,热沉(1)的一周与焊框(7)通过钎焊料(3)钎焊在一起;再将焊框(7)与外壳或基板(6)上的密封环(2)焊接在一起,形成气密性封装。 |
地址 |
214035 江苏省无锡市滨湖区惠河路5号58所先进封装技术研究室 |