发明名称 半导体装置封装件及其制造方法
摘要 一种半导体装置封装件及其制造方法。半导体装置封装件包括基板、缓冲结构、二主动芯片及桥接芯片。基板具有凹部及相对的第一面与第二面。凹部从第一面往第二面延伸,缓冲结构设于凹部。二主动芯片机械性地设置于且电性连接于第一面,二主动芯片环绕凹部,其中,二主动芯片皆具有第一主动面。桥接芯片设于凹部及缓冲结构之上,其中桥接芯片具有第二主动面,第二主动面面向第一主动面且部分地重迭于第一主动面,桥接芯片用以提供二主动芯片之间的相邻通信。
申请公布号 CN102148206B 申请公布日期 2013.04.03
申请号 CN201110021621.4 申请日期 2011.01.04
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 张效铨;蔡宗岳;赖逸少;郑明祥
分类号 H01L23/31(2006.01)I;H01L23/16(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I;H01L21/50(2006.01)I;H01L25/00(2006.01)I 主分类号 H01L23/31(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 陆勍
主权项 一种半导体装置封装件,包括:一基板,具有一凹部及相对的一第一面与一第二面,其中,该凹部从该第一面往该第二面延伸;一缓冲结构,设于该凹部,其中该缓冲结构包括一发泡材料;二主动芯片,机械性地设置于且电性连接于该第一面,其中,该二主动芯片皆具有一第一主动面;以及一桥接芯片,设于该凹部及该缓冲结构之上,其中该桥接芯片具有一第二主动面,该第二主动面面向该第一主动面且部分地重迭于该第一主动面,该桥接芯片用以提供该二主动芯片之间的一相邻通信。
地址 中国台湾高雄市楠梓加工出口区经三路26号