发明名称 |
电介体陶瓷及层叠陶瓷电容器 |
摘要 |
本发明提供一种即使薄层化至电介体陶瓷层厚度不足1μm并同时赋予高电场强度,寿命特性也良好的层叠陶瓷电容器,作为构成层叠陶瓷电容器(1)的电介体陶瓷层(2)的电介体陶瓷,使用包含以(Ba1-x/100Cax/100)mTiO3(其中,0≤x≤20)表示的化合物作为主成分并且包含aMg-bSi-cMn-dR(其中,R为选自La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu及Y中的至少1种,a、b、c及d[摩尔份]相对于所述主成分100摩尔份分别为0.1<a≤20.0、0.5<b≤20.0、0.1<c≤10.0、及1.0<d≤30.0。)作为副成分的电介体陶瓷,烧成该电介体陶瓷而得到的烧结体中的结晶粒子的平均粒径为20nm以上且不足100nm。 |
申请公布号 |
CN102190488B |
申请公布日期 |
2013.04.03 |
申请号 |
CN201110049617.9 |
申请日期 |
2011.02.28 |
申请人 |
株式会社村田制作所 |
发明人 |
福田惠;矢尾刚之;松田真;神崎泰介 |
分类号 |
H01G4/12(2006.01)I;C04B35/468(2006.01)I;H01G4/30(2006.01)I |
主分类号 |
H01G4/12(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
张宝荣 |
主权项 |
一种电介体陶瓷,其特征在于,包含用(Ba1‑x/100Cax/100)mTiO3表示的化合物作为主成分,包含aMg‑bSi‑cMn‑dR作为副成分,并且,在烧成该电介体陶瓷而得到的烧结体中的结晶粒子的平均粒径为20nm以上且不足100nm,其中,在(Ba1‑x/100Cax/100)mTiO3中,0≤x≤20;在aMg‑bSi‑cMn‑dR中,R为选自La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu及Y中的至少1种,a、b、c及d摩尔份相对于所述主成分100摩尔份分别满足0.1<a≤20.0、0.5<b≤20.0、0.1<c≤10.0及1.0<d≤30.0的各条件。 |
地址 |
日本京都府 |