发明名称 信号处理装置与信号处理方法
摘要 一种信号处理装置与信号处理方法。其中,信号处理装置,包括:处理电路,根据缺陷信号决定光存储介质上至少一个缺陷区域的位置并且相应的记录所述至少一个缺陷区域的缺陷位置信息;以及信号产生电路,耦接于所述处理电路并且至少根据所述至少一个缺陷区域的已记录缺陷位置信息产生输出信号。本发明所提供的信号处理装置与信号处理方法能够避免或减轻由于光盘上形成缺陷区域应用不适当的伺服控制努力而产生的信号质量退化。
申请公布号 CN101740067B 申请公布日期 2013.04.03
申请号 CN200910177378.8 申请日期 2009.09.29
申请人 联发科技股份有限公司 发明人 游志青;林郁轩
分类号 G11B20/00(2006.01)I;G11B19/02(2006.01)I 主分类号 G11B20/00(2006.01)I
代理机构 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 代理人 葛强;张一军
主权项 一种信号处理装置,其特征在于,包括:处理电路,根据缺陷信号决定光存储介质上至少一个缺陷区域的位置并且相应的记录所述至少一个缺陷区域的缺陷位置信息,所述处理电路包括缺陷位置信息记录单元,所述缺陷位置信息记录单元包括:计数器,计算所述光存储介质的每个完整旋转以产生计数器值,所述计数器值指示所述光存储介质上的相应位置,并且在所述光存储介质的每个完整旋转之后重设所述计数器至起始值;以及存储器,通过储存相应于所述至少一个缺陷区域的计数器值来记录所述至少一个缺陷区域的所述缺陷位置信息;以及信号产生电路,耦接于所述处理电路,所述信号产生电路包括:调整单元,通过至少第一调整值调整相应于所述至少一个缺陷区域的已储存计数器值,以产生至少第一已调整计数器值;比较单元,耦接于所述计数器与所述调整单元并且用于将由所述计数器当前计算得到的计数器值与所述第一已调整计数器值进行比较;以及信号产生单元,耦接于所述比较单元,所述信号产生单元根据所述比较单元产生的比较结果产生特定信号并且根据至少所述特定信号产生输出信号。
地址 中国台湾新竹科学工业园区新竹市笃行一路一号