发明名称 一种内存可靠性测试方法
摘要 本发明提供一种内存可靠性测试方法,其具体测试步骤为:准备测试硬件平台:准备测试主机平台、预测试的内存条以及在测试主机上安装操作系统和测试软件,并将VID拨码开关电路接入主板上内存VR控制器;将测试平台置于高温环境中,通过拨码开关设置至少两组内存的供电电压,开始测试;不同电压环境下分别测试至少24小时,该不同电压环境下的测试时间相同,全部运行完成后,检查内部文件中记录的内存报错提示并记录,结束测试。该内存可靠性测试方法和现有技术相比,具有设计合理、结构简单、使用方便等特点,将拨码开关电路引入到内存可靠性测试中,改变原来无法直接对内存电压按照需求直接进行调整的不足,适用性强。
申请公布号 CN103019909A 申请公布日期 2013.04.03
申请号 CN201210541340.6 申请日期 2012.12.14
申请人 浪潮电子信息产业股份有限公司 发明人 王磊;王守昊
分类号 G06F11/30(2006.01)I 主分类号 G06F11/30(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种内存可靠性测试方法,其特征在于其具体测试步骤为:1)准备测试硬件平台:准备测试主机平台、预测试的内存条以及在测试主机上安装操作系统和测试软件,并将VID拨码开关电路接入主板上内存VR控制器;2)将测试平台置于高温环境中,通过拨码开关设置至少两组内存的供电电压,开始测试;3)不同电压环境下分别测试至少24小时,该不同电压环境下的测试时间相同,全部运行完成后,检查内部文件中记录的内存报错提示并记录,结束测试。
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