发明名称 半导体存储器件及其制造方法、半导体器件
摘要 本发明涉及一种半导体存储器件及其制造方法、半导体器件。在将DRAM和ReRAM安装在一起的情况下,降低了其制造成本,同时保持了电容元件和可变电阻元件的性能。一种半导体存储器件,包括可变电阻元件和电容元件。该可变电阻元件具有第一深度的柱型MIM结构,并且设计为可变电阻型存储器。电容元件具有比第一深度深的第二深度的柱型MIM结构,并且设计为DRAM。
申请公布号 CN103022037A 申请公布日期 2013.04.03
申请号 CN201210363802.X 申请日期 2012.09.26
申请人 瑞萨电子株式会社 发明人 松平将治;寺井真之
分类号 H01L27/108(2006.01)I;H01L21/8242(2006.01)I 主分类号 H01L27/108(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 李兰;孙志湧
主权项 一种半导体存储器件,包括:可变电阻型存储器的可变电阻元件,所述可变电阻元件具有第一深度的柱型MIM(金属‑绝缘体‑金属)结构;和DRAM(动态随机存取存储器)的电容元件,所述电容元件具有比所述第一深度深的第二深度的柱型MIM结构。
地址 日本神奈川县