发明名称 |
半导体存储器件及其制造方法、半导体器件 |
摘要 |
本发明涉及一种半导体存储器件及其制造方法、半导体器件。在将DRAM和ReRAM安装在一起的情况下,降低了其制造成本,同时保持了电容元件和可变电阻元件的性能。一种半导体存储器件,包括可变电阻元件和电容元件。该可变电阻元件具有第一深度的柱型MIM结构,并且设计为可变电阻型存储器。电容元件具有比第一深度深的第二深度的柱型MIM结构,并且设计为DRAM。 |
申请公布号 |
CN103022037A |
申请公布日期 |
2013.04.03 |
申请号 |
CN201210363802.X |
申请日期 |
2012.09.26 |
申请人 |
瑞萨电子株式会社 |
发明人 |
松平将治;寺井真之 |
分类号 |
H01L27/108(2006.01)I;H01L21/8242(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/108(2006.01)I |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 |
代理人 |
李兰;孙志湧 |
主权项 |
一种半导体存储器件,包括:可变电阻型存储器的可变电阻元件,所述可变电阻元件具有第一深度的柱型MIM(金属‑绝缘体‑金属)结构;和DRAM(动态随机存取存储器)的电容元件,所述电容元件具有比所述第一深度深的第二深度的柱型MIM结构。 |
地址 |
日本神奈川县 |