发明名称 钽氮化物膜之形成方法
摘要 〔课题〕提供C、N含有量低,Ta/N组成比高,做为确保和Cu膜密着性的障壁膜是有用的低阻抗之钽氮化物膜之形成方法。;〔解决手段〕在真空腔室内,导入在Ta元素的周围配位了N=(R,R')(R及R'系表示碳原子数1~6个的烷基,其各自可为相同的基也可为互异的基)而成之配位化合物所成之原料气体而令其被吸附在基板上后,导入含氧原子气体而生成TaOxNy(R,R')z,然后导入活性化的反应气体以还原键结在Ta上的氧,且,将键结在N上之R(R')基切断去除,形成富含Ta之钽氮化物膜。又,将钽粒子藉由溅镀法打入至所得的膜中,使其更富含Ta。
申请公布号 TWI392018 申请公布日期 2013.04.01
申请号 TW095106837 申请日期 2006.03.01
申请人 爱发科股份有限公司 日本 发明人 五户成史;丰田聪;牛川治宪;近藤智保;中村久三
分类号 H01L21/31;C23C16/34 主分类号 H01L21/31
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址 日本