发明名称 阵列测试器
摘要 揭露一种阵列测试器,其执行显示面板之基板上的复数个电极是否有电缺陷之测试。阵列测试器包含至少一光源及至少一调变器。光源设置于基板上调变器设置之位置之相对侧,且一个接一个地对应调变器,发射光到对应的调变器,且移动到与调变器相同之位置。光源之尺寸与调变器一样小,因此可显着降低光源的亮度差异。因此,光源朝基板发射均匀的光,而提供调变器均匀的光,藉此能根据面板电极是否有缺陷而使改变的光量稳定。因此,阵列测试器之侦测单元量测通过调变器的光量,并精确地决定电极是否有缺陷,因而增加面板缺陷侦测之测试可靠度。
申请公布号 TWI391665 申请公布日期 2013.04.01
申请号 TW097147669 申请日期 2008.12.08
申请人 塔工程有限公司 南韩 发明人 潘俊浩;丁东澈;崔渊圭;方圭龙;张文柱
分类号 G01R1/02;G01R31/28;G12B3/00 主分类号 G01R1/02
代理机构 代理人 江孟贞 台北市大安区敦化南路2段218号5楼A区
主权项
地址 南韩