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发明名称
形成具矽化物层之半导体装置之方法
摘要
本发明揭示一种形成半导体装置之方法,其包括:提供一半导体基板;在该半导体基板上形成一绝缘层;在该绝缘层上形成一导电层;在该导电层上形成一第一金属矽化物层;图案化该导电层以形成一图案化第一层,其中该图案化第一层系一控制电极之一部分;图案化该第一金属矽化物层,以在该控制电极上形成一图案化第一金属矽化物层,使得该图案化第一金属矽化物层继续存在于该控制电极上;以及在该图案化金属矽化物层上形成一第二金属矽化物层,其中该第二金属矽化物层之厚度大于第一金属矽化物层之厚度。
申请公布号
TWI391993
申请公布日期
2013.04.01
申请号
TW094115820
申请日期
2005.05.16
申请人
飞思卡尔半导体公司 美国
发明人
迪哈麦西 嘉瓦拉尼;塔伯A 史蒂芬斯
分类号
H01L21/18;H01L21/4763
主分类号
H01L21/18
代理机构
代理人
陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址
美国
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