发明名称 STORAGE DEVICE TESTING SYSTEMS
摘要 A storage device test system includes a test slot configured to receive at least two storage devices for testing, the at least two storage devices being in a same plane.
申请公布号 WO2013043786(A2) 申请公布日期 2013.03.28
申请号 WO2012US56203 申请日期 2012.09.20
申请人 TERADYNE, INC. 发明人 MERROW, BRIAN S.;TOSCANO, JOHN P.;DUTREMBLE, TOM;TRUEBENBACH, ERIC L.
分类号 G01R31/00 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人
主权项
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