发明名称 一种MOS管阈值电压测试电路
摘要 本发明公开了一种MOS管阈值电压测试电路。本电路通过测试PMOS管和NMOS管不同组合时的阈值电压,或者测试同一组合的多组电压值,然后根据组合的形式,算出MOS管阈值电压的平均值,如此可以得到MOS管实际的阈值电压,给高精度模拟电路设计提供了可靠的参考,同时对代工厂提供的仿真模型的准确性也有一个直观的把握,给后续的电路设计实现提供了依据。
申请公布号 CN102998513A 申请公布日期 2013.03.27
申请号 CN201210428681.2 申请日期 2012.11.01
申请人 长沙景嘉微电子股份有限公司 发明人 蒋仁杰
分类号 G01R19/00(2006.01)I 主分类号 G01R19/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种MOS管阈值电压测试电路,其特征在于:一个限流电阻R一端接电源VDD,另一端接电压测试点TP,测试点TP同时与开关K1、K2、K3、K4、K5、K6……Kn的一端相连接;Case1、Case2、Case3、Case4、Case5、Case6……Casen是不同的测试电路结构,其中的MOS管都是栅漏短接的二极管连接方式,衬底都是和源极接一起;开关K1的一端连接TP,另一端连接Case1中PMOS管M1的源极,M1的栅极、漏极接地;开关K2的一端连接TP,另一端连接Case2中NMOS管M2的栅极、漏极,M2的源极接地;开关K3的一端连接TP,另一端连接Case3中PMOS管M3的源极,M3的栅极、漏极接PMOS管M4源极,M4的栅极、漏接地;开关K4的一端连接TP,另一端连接Case4中NMOS管M5的栅极、漏极,M5的源极与NMOS管M6的栅极、漏极连接,M6的源极接地;开关K5的一端连接TP,另一端连接Case5中PMOS管M7的源极,M7的栅极、漏极与NMOS管M8的栅极、漏极连接,M8的源极接地;开关K6的一端连接TP,另一端连接Case6中NMOS管M9的栅极、漏极,M9的源极与PMOS管M10的源极连接,M10的栅极、漏极接地;开关Kn的一端连接TP,另一端连接到Casen,Casen的电路形式可以是任意可能的待测电路。
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