发明名称 一种天线时延测试方法
摘要 本发明公开了一种天线时延测试方法,该方法首先在满足天线远场条件的微波暗室环境,引入与被测天线同频段,同极化的三个形式一致的标准时延天线,并将其中每两个标准时延天线组成收发链路,链路满足天线远场条件,用矢量网络分析仪测出其组合时延,再利用三组测出的组合时延值,联立方程组,求出任意一个标准时延天线的时延值,最后将时延已知的标准时延天线与被测天线组成收发链路,链路满足天线远场条件,用矢量网络分析仪测出其组合时延,再利用标准时延天线时延为已知量,解出被测天线的时延值。本发明的测试方法简单、测试精度高,并且适用范围广。
申请公布号 CN103001709A 申请公布日期 2013.03.27
申请号 CN201210378474.0 申请日期 2012.09.29
申请人 西安空间无线电技术研究所 发明人 李黎;冯德会;赵东升;吴春邦;刘灵鸽;杨文丽
分类号 H04B17/00(2006.01)I 主分类号 H04B17/00(2006.01)I
代理机构 中国航天科技专利中心 11009 代理人 臧春喜
主权项 一种天线时延测试方法,其特征在于步骤如下:(1)在微波暗室环境,引入三个形式一致且与被测天线同频段、同极化的标准时延天线A,B,C;(2)将标准时延天线A和标准时延天线B组成收发链路,标准时延天线A和标准时延天线B之间的距离R满足,R≥2D2/λ,利用矢量网络分析仪测出收发链路的组合时延值T1,得到TA+TB=T1‑TAB...............................................................(1);其中:D为标准时延天线的最大口径,λ为标准时延天线的工作波长,TA为标准时延天线A的时延,TB为标准时延天线B的时延,TAB为标准时延天线A与标准时延天线B相位中心间的时延;(3)将标准时延天线B和标准时延天线C组成收发链路,标准时延天线B和标准时延天线C之间的距离R满足,R≥2D2/λ,利用矢量网络分析仪测出收发链路的组合时延值T2,得到TB+TC=T2‑TBC.........................................................(2);其中:D为标准时延天线的最大口径,λ为标准时延天线的工作波长,TB为标准时延天线B的时延,TC为标准时延天线C的时延,TBC为标准时延天线B与标准时延天线C相位中心间的时延;(4)将标准时延天线A和标准时延天线C组成收发链路,标准时延天线A和标准时延天线C之间的距离R满足,R≥2D2/λ,利用矢量网络分析仪测出收发链路的组合时延值T3,得到TA+TC=T3‑TAC...............................................................(3);其中:D为标准时延天线的最大口径,λ为标准时延天线的工作波长,TA为标准时延天线A的时延,TC为标准时延天线C的时延,TAC为标准时延天线A与标准时延天线C相位中心间的时延;(5)利用方程(1)、(2)、(3)解出标准时延天线A的时延TA:TA=(T1+T2+T3‑TAB‑TBC‑TAC)/2‑T2‑TBC...............(4);(6)将标准时延天线A和被测天线D组成收发链路,标准时延天线A与被 测天线D之间的距离R1满足,R1≥2D12/λ1,用矢量网络分析仪测出收发链路的组合时延值T4,得到被测天线的时延TD,TD=T4‑TAD‑TA.......................................(5);其中:D1为被测天线D的最大口径,λ1为被测天线D的工作波长,TA为标准时延天线A的时延,TD为被测天线D的时延,TAD为标准时延天线A和被测天线D相位中心间的时延。
地址 710100 陕西省西安市长安区西街150号