发明名称 | 多通道光插回损测试仪 | ||
摘要 | 公开了一种多通道光插回损测试仪,包括光源组、多个光分路器、偏振控制器、内置探测器多路光功率计、主控器和与主控器线路连接的外置探测器参考光功率计;具有1个或2个正向输出测试端口和多个正向输入测试端口,正向输出、输入测试端口分别通过测试用跳线与被测试器件连接;主控器分别与光源组、光开关组、多路光开关、偏振控制器、内置探测器多路光功率计线路连接。本实用新型消除了因连接损耗不确定引起的误差;多通道插回损、偏振相关损耗实时测量,测量效率高。 | ||
申请公布号 | CN202836925U | 申请公布日期 | 2013.03.27 |
申请号 | CN201220440139.4 | 申请日期 | 2012.08.31 |
申请人 | 上海光之虹光电通讯设备有限公司 | 发明人 | 尹晓民 |
分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 多通道光插回损测试仪,其特征是:包括光源组、多个光分路器、偏振控制器、内置探测器多路光功率计、主控器和与主控器线路连接的外置探测器参考光功率计;光源组的光源依次经光开关组、光分路器、偏振控制器、正向输出测试端口,被测试器件、正向输入测试端口、光分路器及内置探测器多路光功率计构成正向测试通道;光源依次经光开关组、多路光开关、光分路器、正向输入测试端口、被测试器件、正向输出测试端口、偏振控制器、光分路器及内置探测器多路光功率计构成反向测试通道;正向输出、输入测试端口分别通过测试用跳线与被测试器件连接;主控器分别与光源组、光开关组、多路光开关、偏振控制器、内置探测器多路光功率计线路连接。 | ||
地址 | 201822 上海市嘉定区迎园路400号 |