发明名称 | 一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法 | ||
摘要 | 本发明属于稳定平台自动跟踪系统控制电路检测技术领域,具体涉及一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法。目的是提供一种不依赖外部仪器,减少人工操作的快速检测方法。包含如下步骤:步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号,将读取的数据求平均作为ADC的零位数据A0;步骤2、将DAC的输出与ADC的输入相连,使DAC输出零值,ADC将读到的信号取平均减去上一步获得的ADC零位数据A0,即得到DAC的零位数据D0;步骤3、DAC输出变化信号,使用ADC进行读取,通过读取的数据与输出的数据进行比对。优点是:使用工装将电路本身的DAC和ADC闭环联结,通过测试程序使DAC输出测试用模拟信号,对电路上ADC进行检测。ADC通过读取的模拟信号对电路上DAC进行检测。完成闭环测试。 | ||
申请公布号 | CN102998611A | 申请公布日期 | 2013.03.27 |
申请号 | CN201110266005.5 | 申请日期 | 2011.09.09 |
申请人 | 中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所 | 发明人 | 张瑞 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 | 核工业专利中心 11007 | 代理人 | 李烨 |
主权项 | 一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法,其特征在于:包含如下步骤:步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号,将读取的数据求平均作为ADC的零位数据A0,用于校准ADC读数;步骤2、将DAC的输出与ADC的输入相连,使DAC输出零值,ADC将读到的信号取平均减去上一步获得的ADC零位数据A0,即得到DAC的零位数据D0,用于校准DAC的输出;步骤3、DAC输出变化信号,信号幅度为DAC的上下极限输出值,每一次的变化幅度为最低数据位,使用ADC进行读取,通过读取的数据与输出的数据进行比对,此时的数据均通过步骤1和步骤2中得到的零位数据进行修正;如果步骤1和步骤2的零位数据满足预定的要求,并且步骤3中DAC输出信号和ADC读取信号一致,则被检测件通过检测;否则,被检测件没有通过检测。 | ||
地址 | 300192 天津市南开区航天道58号 |