发明名称 一种基于太赫兹波伪热光源的成像装置
摘要 本发明公开了一种基于太赫兹波伪热光源的成像装置,包括太赫兹波参量振荡器,太赫兹波聚焦透镜,旋转的毛面硅片,太赫兹波准直透镜,太赫兹波分束器,太赫兹透射光路系统和太赫兹反射光路系统,以及符合测量电路。其中太赫兹透射光路系统由待成像物体,太赫兹波收集透镜,太赫兹衰减片,肖特基势垒光电二极管组成;太赫兹反射光路系统由太赫兹衰减片和肖特基势垒光电二极管组成。具有结构简单、操作灵活、抗干扰能力强等优点。
申请公布号 CN102998261A 申请公布日期 2013.03.27
申请号 CN201210548893.4 申请日期 2012.12.17
申请人 西北大学 发明人 孙博
分类号 G01N21/17(2006.01)I 主分类号 G01N21/17(2006.01)I
代理机构 西安恒泰知识产权代理事务所 61216 代理人 李郑建
主权项 一种基于太赫兹波伪热光源的成像装置,其特征在于,包括太赫兹波参量振荡器(1),太赫兹波聚焦透镜(2),旋转的毛面硅片(3),太赫兹波准直透镜(4),太赫兹波分束器(5),太赫兹透射光路系统和太赫兹反射光路系统,以及符合测量装置(12);其中:所述毛面硅片(3)置于太赫兹波聚焦透镜(2)的焦点附近,毛面硅片(3)到太赫兹波准直透镜(4)的距离为太赫兹波准直透镜(4)的焦距长度;所述的太赫兹透射光路系统由待成像物体(6),太赫兹波收集透镜(7),第一太赫兹衰减片(8)和第一肖特基势垒光电二极管(9)组成;其中,第一肖特基势垒光电二极管(9)置于太赫兹波收集透镜(7)的焦点上;第一太赫兹衰减片(8)置于太赫兹波收集透镜(7)和第一肖特基势垒光电二极管(9)之间;所述的太赫兹反射光路系统由第二太赫兹衰减片(10)和第二肖特基势垒光电二极管(11)组成;其中,第二肖特基势垒光电二极管(11)做空间平面成像扫描;第一肖特基势垒光电二极管(9)和第二肖特基势垒光电二极管(11)连接于符合测量装置(12)。
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