| 发明名称 |
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THE RESISTANCE OF AN ELECTRICAL COMPONENT WHICH MAY BE SHUNTED BY A SEMICONDUCTOR DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
US3440530(A) |
申请公布日期 |
1969.04.22 |
| 申请号 |
USD3440530 |
申请日期 |
1966.11.22 |
| 申请人 |
MOLECULAR ELECTRONICS INC. |
发明人 |
BERNARD REICH;MICHAEL A. BENANTI;WILLIAM R. ORLOFF |
| 分类号 |
G01R27/02;(IPC1-7):G01R27/14 |
主分类号 |
G01R27/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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