发明名称 一种优化CDSEM跑货顺序的方法
摘要 一种优化CDSEM跑货顺序的方法,包括:步骤S1:导出已完成跑货的批量产品之制程时间Twafer;步骤S2:计算单点制程时间Tpoint;步骤S3:将所述单点制程时间Tpoint导入自动派货系统;步骤S4:计算所述CDSEM量测机台的等待时间Twait;步骤S5:所述自动派货系统根据步骤S4所获得的等待时间Twait,以及所述自动派货系统所记录的批量产品的优先等级顺序优化所述CDSEM量测机台的跑货顺序。本发明所述的优化CDSEM跑货顺序的方法实现了CDSEM量测机台等待时间的量化,并结合所述自动派货系统记录的批量产品的优先等级顺序、测量点数量等相关信息,优化所述CDSEM量测机台的跑货顺序,不仅提高了所述CDSEM量测机台的利用率,而且减少了高等级批量产品在所述CDSEM测量站点的等待时间,极大的改善了生产效率。
申请公布号 CN103000547A 申请公布日期 2013.03.27
申请号 CN201210496704.3 申请日期 2012.11.28
申请人 上海华力微电子有限公司 发明人 夏婷婷;朱骏;马兰涛;张旭升
分类号 H01L21/66(2006.01)I 主分类号 H01L21/66(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 陆花
主权项 1.一种优化CDSEM跑货顺序的方法,其特征在于,所述方法包括:执行步骤S1:利用CDSEM测量处方浏览器软件导出已完成跑货的批量产品之制程时间T<sub>wafer</sub>;执行步骤S2:计算单点制程时间T<sub>point</sub>;通过量测程式的设定,并结合所述CDSEM测量处方浏览器软件导出的已完成跑货的批量产品之制程时间T<sub>wafer</sub>,并依据公式<img file="FDA00002484071800011.GIF" wi="306" he="132" />计算所述单点制程时间T<sub>point</sub>;执行步骤S3:将所述单点制程时间T<sub>point</sub>导入自动派货系统,所述自动派货系统可导入所述CDSEM测量处方浏览器软件输出的数据并进行计算,同时所述自动派货系统可对相关信息进行记录,所述相关信息包括批量产品的优先等级顺序、测量点数量;执行步骤S4:计算所述CDSEM量测机台的等待时间T<sub>wait</sub>,所述自动派货系统通过公式:T<sub>wait</sub>=T<sub>recipe1point</sub>×Lot1×N1<sub>point</sub>+T<sub>recipe2point</sub>×Lot2×N2<sub>point</sub>+…+T<sub>recipenpoint</sub>×Lotn×Nn<sub>point</sub>,获得所述CDSEM量测机台的等待时间T<sub>wait</sub>;执行步骤S5:所述自动派货系统根据步骤S4所获得的等待时间T<sub>wait</sub>,以及所述自动派货系统所记录的批量产品的优先等级顺序安排所述CDSEM量测机台的跑货顺序。
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