半导体装置以及使用该半导体装置的位置检测方法

摘要

现有的半导体装置虽然能够获得半导体装置是否存在于预定的空间中的信息以及半导体装置所具有的ID等的信息，但其问题在于不能获得该半导体装置处于预定空间中的何处的信息。本发明的半导体装置包括根据从外部输出的信号分选信号的信号分选部、以及检测来自外部的信号的信号检测部。另外，在包括信号分选部和信号检测部的半导体装置的结构中，通过利用来自多个询问器的信号来提供位置检测方法。

主权项

一种半导体装置，包括：天线电路，接收来自多个询问器的信号；信号分选部，用于分选来自所述多个询问器的信号；以及信号检测部，用于检测由所述信号分选部所分选的信号的强度，其中，所述信号检测部包括被配置成根据来自所述多个询问器中的每一个的信号的强度计算所述半导体装置与所述多个询问器中的每一个之间的距离的中央处理单元，并且其中，所述天线电路被配置成向所述多个询问器中的离所述半导体装置最近的询问器发送包括关于来自所述多个询问器的信号的强度的信息的信号。