用于粒子检测的二维光学成像方法和系统

摘要

本发明提供了用于粒子检测和分析的方法和系统，其使用二维光学成像以获得相对于传统的基于点和阵列检测的光学粒子计数器增强的检测敏感度和扩展的检测功能。本发明的方法和系统提供了一种基于二维光学成像的粒子检测平台，其中系统部件和规格被选择以根据提供给系统的粒子的光学散射或发射来生成可再生和易于识别的信号，包括粒子检测识别标志。本发明的系统和方法能够准确且灵敏地检测、识别和表征(例如，确定其大小)在液相或气相样本中的粒子。

主权项

用于检测在流体流中的单个粒子的方法，所述方法包括下列步骤：提供具有所述粒子的所述流体流，所述流体流具有一流向；将所述流体流曝露于电磁辐射束，其中，在所述单个粒子和所述电磁辐射束之间的相互作用生成来自所述单个粒子的散射或发射的电磁辐射；将来自所述单个粒子的所述散射或发射的电磁辐射的至少一部分导引到被设置在一个二维检测器阵列中的多个检测器元件上；检测被导引到所述多个检测器元件上的所述散射或发射的电磁辐射的至少一部分，其中所述阵列的所述检测器元件的至少一部分生成相应于来自所述单个粒子的所述散射或发射的电磁辐射的强度的输出信号；为所述阵列的所述检测器元件的至少一部分测量输出信号；识别针对所述单个粒子的粒子检测识别标志，其包括多个检测器元件的多个输出信号的图案，每个检测器元件均具有大于或等于给定检测器元件的阈值的输出信号；其中针对所述粒子检测识别标志的每个检测器元件的阈值大于或等于所述检测器元件的噪声的标准差的2.5倍；其中所述粒子检测识别标志包括一个纵向分量，其相应于所述散射或发射的电磁辐射沿着所述流向的强度分布；所述纵向分量包括沿着相应于所述流向的纵轴而提供的两个或更多个直接邻近的检测器元件；以及分析所述粒子检测识别标志，以提供对所述粒子的特性的确定或测量，从而检测在所述流体流中的所述单个粒子。