发明名称 用于X射线相位对比成像的探测装置
摘要 本发明涉及用于生成对象(1)的相位对比度X射线图像的方法和设备。该设备包括X射线源(10),其例如可由光栅(G0)之后的空间延伸发射器(11)实现。衍射光学元件(DOE),例如相位光栅(G1),从已经经过该对象(1)的X辐射中生成干涉图样(I),并且谱分辨X射线探测器(30)用于测量该DOE之后的这一干涉图样。使用在不同波长/能量的X辐射下获得的信息,可以重建由该对象引起的相移。
申请公布号 CN101873828B 申请公布日期 2013.03.27
申请号 CN200880117618.9 申请日期 2008.11.19
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 T·克勒
分类号 A61B6/00(2006.01)I 主分类号 A61B6/00(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 王英;刘炳胜
主权项 一种用于生成对象(1)的相位对比图像的X射线设备(100),包括‑X射线源(10);‑衍射光学元件(G1),称为DOE,其暴露于所述X射线源(10);‑谱分辨X射线探测器(30),其用于探测由所述DOE(G1)生成的干涉图样(I)。
地址 荷兰艾恩德霍芬