发明名称 |
活动模拟块检测结构 |
摘要 |
本发明提供了活动模拟块检测结构,其使得对零件表面的大块凹坑的检测精准度高、且检测的效率高。其包括检具、零件,所述零件压装于所述检具,其特征在于:所述检具的两侧设置有基准平面,所述检具对应所述零件的表面的凹坑的位置设置有下部凹坑模拟块,所述凹坑配合嵌装于所述下部凹坑模拟块,上部模拟块为活动部件,所述上部模拟块的下端、侧部形状和所述凹坑相吻合,所述上部模拟块置于所述凹坑的上表面,所述上部模拟块的上表面为平面,当检测合格时,所述上部模拟块的上表面和两侧的基准平面相平齐。 |
申请公布号 |
CN102997780A |
申请公布日期 |
2013.03.27 |
申请号 |
CN201210423162.7 |
申请日期 |
2012.10.30 |
申请人 |
无锡市麦希恩机械制造有限公司 |
发明人 |
朱建平 |
分类号 |
G01B5/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01B5/00(2006.01)I |
代理机构 |
无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) 32227 |
代理人 |
杜丹盛 |
主权项 |
活动模拟块检测结构,其包括检具、零件,所述零件压装于所述检具,其特征在于:所述检具的两侧设置有基准平面,所述检具对应所述零件的表面的凹坑的位置设置有下部凹坑模拟块,所述凹坑配合嵌装于所述下部凹坑模拟块,上部模拟块为活动部件,所述上部模拟块的下端、侧部形状和所述凹坑相吻合,所述上部模拟块置于所述凹坑的上表面,所述上部模拟块的上表面为平面,当检测合格时,所述上部模拟块的上表面和两侧的基准平面相平齐。 |
地址 |
214027 江苏省无锡市新区坊前工业园锡达路571号 |