发明名称 活动模拟块检测结构
摘要 本发明提供了活动模拟块检测结构,其使得对零件表面的大块凹坑的检测精准度高、且检测的效率高。其包括检具、零件,所述零件压装于所述检具,其特征在于:所述检具的两侧设置有基准平面,所述检具对应所述零件的表面的凹坑的位置设置有下部凹坑模拟块,所述凹坑配合嵌装于所述下部凹坑模拟块,上部模拟块为活动部件,所述上部模拟块的下端、侧部形状和所述凹坑相吻合,所述上部模拟块置于所述凹坑的上表面,所述上部模拟块的上表面为平面,当检测合格时,所述上部模拟块的上表面和两侧的基准平面相平齐。
申请公布号 CN102997780A 申请公布日期 2013.03.27
申请号 CN201210423162.7 申请日期 2012.10.30
申请人 无锡市麦希恩机械制造有限公司 发明人 朱建平
分类号 G01B5/00(2006.01)I 主分类号 G01B5/00(2006.01)I
代理机构 无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) 32227 代理人 杜丹盛
主权项 活动模拟块检测结构,其包括检具、零件,所述零件压装于所述检具,其特征在于:所述检具的两侧设置有基准平面,所述检具对应所述零件的表面的凹坑的位置设置有下部凹坑模拟块,所述凹坑配合嵌装于所述下部凹坑模拟块,上部模拟块为活动部件,所述上部模拟块的下端、侧部形状和所述凹坑相吻合,所述上部模拟块置于所述凹坑的上表面,所述上部模拟块的上表面为平面,当检测合格时,所述上部模拟块的上表面和两侧的基准平面相平齐。
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