发明名称 旋转位置测量装置
摘要 本发明涉及一种旋转位置测量装置,具有:光源;带有旋转对称的、反射的量具的刻度盘;和光电的探测装置。刻度盘能相对于光源和探测装置围绕旋转轴线进行旋转,从而在相对旋转的情况下能通过探测装置来检测与旋转角度相关的位置信号。光源在旋转轴线上布置成以第一距离与量具间隔开;探测装置布置成以第二距离与量具间隔开,所述第二距离不同于第一距离。刻度盘包括光学器件,该光学器件具有这样的光学作用,使得光源成像到一个位置中,所述位置与量具之间具有第三距离,其中,该第三距离根据数值与第一距离不同。
申请公布号 CN102997948A 申请公布日期 2013.03.27
申请号 CN201210338229.7 申请日期 2012.09.13
申请人 约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司 发明人 U.本纳
分类号 G01D5/34(2006.01)I;G01B11/26(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I 主分类号 G01D5/34(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 梁冰;杨国治
主权项 一种旋转位置测量装置,具有:‑光源(10;100;1000);‑带有旋转对称的反射的量具(20;200;2000)的刻度盘(210);和‑光电的探测装置(30;300;3000),其中,‑所述刻度盘(210)能相对于所述光源(10;100;1000)和所述探测装置围绕旋转轴线(R)进行旋转,从而在相对旋转的情况下能通过所述探测装置(30;300;3000)来检测与旋转角度相关的位置信号,并且其中‑所述光源(10;100;1000)在所述旋转轴线(R)上布置成以第一距离(u)与所述量具(20;200;2000)间隔开,并且‑所述探测装置(30;300;3000)布置成以第二距离(v)与所述量具(20;200;2000)间隔开,所述第二距离不同于所述第一距离(u),并且其中‑所述刻度盘包括光学器件,所述光学器件具有这样的光学作用,使得所述光源(10;100;1000)成像到一位置中,所述位置与量具(20;200;2000)之间具有第三距离(u′),其中,所述第三距离(u′)根据数值与所述第一距离(u)不同。
地址 德国特劳恩罗伊特
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