发明名称 |
一种内存测试方法及嵌入式设备 |
摘要 |
本发明公开了一种内存测试方法及嵌入式设备,针对现有的内存测试代码在ROM中运行不能使用堆栈,只能使用寄存器,测试程序较为复杂,通用性不强的问题,本发明具体通过TLB映射改变待测试内存对应的物理内存空间,可以做到待测试内存区域的虚拟地址不变,而实际测试内存不同,通过两次内存测试可以覆盖全部内存空间。本发明的测试方法在不增加硬件成本的情况下,通过映射进行内存全面测试,测试程序实现简单,能够提升测试速度,并且内存测试程序在内存中运行,速度快,实现测试结果同步输出。 |
申请公布号 |
CN102999409A |
申请公布日期 |
2013.03.27 |
申请号 |
CN201210558256.5 |
申请日期 |
2012.12.20 |
申请人 |
迈普通信技术股份有限公司 |
发明人 |
陈小松 |
分类号 |
G06F11/22(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/22(2006.01)I |
代理机构 |
成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 |
代理人 |
周永宏 |
主权项 |
一种内存测试方法,其特征在于,具体包括如下步骤:A、嵌入式设备启动后,首先读取内存测试参数,再对系统进行硬件初始化;B、对读取的内存测试参数进行判断,如为第一测试参数,则利用转换后援缓冲区TLB映射将内存空间的第一部分映射为测试程序使用的内存空间,将剩余内存空间作为待测试内存,进入步骤C;如为第二测试参数,则利用TLB映射将内存空间的第二部分映射为测试程序使用的内存空间,将剩余内存空间作为待测试内存,进入步骤C;如为第三测试参数,则利用TLB映射将所有内存空间映射为系统应用程序使用的内存空间,内存测试结束;C、加载测试程序到对应的内存空间,并执行内存测试程序,启动对待测试内存的测试;D、内存测试程序完成对当前待测试内存的测试后,对内存测试参数进行判断,如为第一测试参数,则设置内存测试参数为第二测试参数,并重新启动嵌入式设备,进入步骤A;如为第二测试参数,则设置内存测试参数为第三测试参数,并重新启动嵌入式设备,进入步骤A。 |
地址 |
610041 四川省成都市高新区九兴大道16号迈普大厦 |