发明名称 半导体装置
摘要 围绕施加高电位的感应电阻(9)与形成第1逻辑电路(26)的高电位逻辑区域(25)的周围,分离区域(30)介于其间,形成RESURF(降低表面电场)区域(24)。RESURF区域(24)的外侧,为了对接地电位驱动第2逻辑电路(22),形成施加必须的驱动电压准位的第2逻辑电路区域。RESURF区域(24)中,场效电晶体(T)的汲极电极(12)沿着内圈形成,源极电极(10)沿着外圈形成。又,连接至感应电阻(9)的多晶矽电阻(4),从内圈侧往外圈侧形成螺旋状。
申请公布号 TWI390706 申请公布日期 2013.03.21
申请号 TW098114798 申请日期 2009.05.05
申请人 三菱电机股份有限公司 日本 发明人 清水和宏
分类号 H01L27/02;H01L29/78 主分类号 H01L27/02
代理机构 代理人 洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼
主权项
地址 日本