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发明名称
天线特性测定装置及天线特性测定方法
摘要
本发明之天线特性测定装置及天线特性测定方法,不需进行修正等之运算处理,使用小型电波屏蔽箱测定天线特性。;在电波屏蔽箱1之内部配置被测定天线3与测定天线4。接着,依据被测定天线3之开口尺寸D、测定天线4之开口尺寸d、及测定频率之波长λ,将被测定天线3与测定天线4间之距离L设定成于(D+d)2/(2 λ)以上2(D+d)2/λ以下之范围内的值。藉此,能在菲涅尔区域测定被测定天线3的天线特性。
申请公布号
TWI390217
申请公布日期
2013.03.21
申请号
TW096125557
申请日期
2007.07.13
申请人
村田制作所股份有限公司 日本
发明人
北田浩志;山本幸雄
分类号
G01R29/08
主分类号
G01R29/08
代理机构
代理人
桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项
地址
日本
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