| 摘要 |
<p>Die vorliegende Erfindung betrifft ein Mikroskop (100) mit einer Durchlicht-Beleuchtungseinrichtung (10) für eine kritische Beleuchtung eines zu betrachtenden Objekts (O), aufweisend: eine Lichtquelle (20) aufweisend eine LED-Anordnung mit einer kleineren Lichtabstrahlfläche, ein Lichtrichtelement (30) mit einer größeren Auskoppelfläche (32) mit einer Auskoppelflächenabmessung, wobei das Lichtrichtelement (30) so angeordnet ist, dass von der Lichtquelle (20) abgestrahltes Licht eingekoppelt wird und aus der Auskoppelfläche (32) ausgekoppelt wird, wobei das aus der Auskoppelfläche (32) ausgekoppelte Licht in einem Winkelbereich von mindestens ±10° und höchstens ±50° abstrahlt und eine Fläche in 5 m Entfernung in einem Winkelbereich von mindestens ±5° mit Intensitätsschwankungen geringer als 50% beleuchtet, einen Kondensor (40) zwischen der Auskoppelfläche (32) des Lichtrichtelements und dem zu betrachtenden Objekt (O), wobei der Kondensor eine Apertur (41) mit einer Aperturabmessung (A) hat und so angeordnet ist, dass die Apertur (41) mit dem aus der Auskoppelfläche (32) ausgekoppelten Licht vollständig bestrahlt wird.</p> |
