发明名称 |
硫属化物膜的形成方法以及记录元件的制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种硫属化物膜的形成方法,在形成在基板上的绝缘层的接触孔内形成硫属化物膜,该方法包括:准备与上述硫属化物膜同一组成的靶的步骤;上述靶的直径为T(m),上述靶与上述基板之间的距离为L(m)时,将上述距离L与上述靶的直径T的比L/T设定为0.5~1.5的步骤;通过对上述基板施加偏置功率,对上述靶施加溅射功率的溅射工序,在上述接触孔内形成硫属化物膜的步骤。 |
申请公布号 |
CN101589469B |
申请公布日期 |
2013.03.20 |
申请号 |
CN200880002896.X |
申请日期 |
2008.01.24 |
申请人 |
株式会社爱发科 |
发明人 |
菊地真;西冈浩;木村勋;神保武人;邹红罡 |
分类号 |
H01L27/105(2006.01)I;H01L45/00(2006.01)I;C23C14/34(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/105(2006.01)I |
代理机构 |
北京德琦知识产权代理有限公司 11018 |
代理人 |
徐江华;王珍仙 |
主权项 |
一种硫属化物膜的形成方法,在形成在基板上的绝缘层的接触孔内形成硫属化物膜,该方法包括:准备与所述硫属化物膜同一组成的靶的步骤;所述靶的直径为T(m)、所述靶与所述基板之间的距离为L(m)时,将所述距离L与所述靶的直径T的比L/T设定为0.5~1.5的步骤;通过对所述基板施加偏置功率,对所述靶施加溅射功率的溅射工序,在所述接触孔内形成硫属化物膜的步骤,所述基板的表面积为Ss(cm2)、对所述基板施加的偏置功率为Ps(W)、所述靶的表面积为St(cm2)、对所述靶施加的溅射功率为Pt(W)时,所述基板的功率密度Ds与所述靶的功率密度Dt的比Ds/Dt满足下式(1):Ds/Dt=(Ps×St)/(Pt ×Ss)≤0.1(1)。 |
地址 |
日本神奈川县 |