发明名称 β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法
摘要 一种β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法,利用了化学蚀刻控制膜片的等效质量,工艺要求低,一般等级的化学实验室即可进行标准质量膜片的制作,制作所需药品和材料成本低,获取方便,可在测量需要时随时制作,无须从国外进口,保证了测量工作的工作效率,膜片固定稳固,避免了由于膜片粘接不稳固产生形变,造成测量结果不准确的问题,膜片厚度不为固定值,等效质量可在要求范围内,适用范围广。
申请公布号 CN102980840A 申请公布日期 2013.03.20
申请号 CN201210430372.9 申请日期 2012.11.02
申请人 青岛佳明测控科技股份有限公司 发明人 高心岗;郭松明;郝纯青;赵军峰;程丽华
分类号 G01N15/06(2006.01)I 主分类号 G01N15/06(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法,其特征在于,步骤如下:1)将光学聚酯膜放入纯氢氧化钾溶液中进行蚀刻,通过控制蚀刻时间将光学聚酯膜分别蚀刻到39±0.1μm、44.7±0.1μm、54.4±0.1μm的厚度;2)将光学聚酯膜利用圆形模具裁剪成合适大小的膜片,将厚度为44.7±0.1μm和54.4±0.1μm的膜片放到放射源与探测器之间连续测试4分钟,记录测试所得的等效质量值,重复测试8次取等效质量值的中值,将等效质量值的中值作为各膜片的标准质量;将厚度为39±0.1μm的膜片放到放射源与探测器之间进行连续测试,记录测试所得的等效质量值,将等效质量值与标准质量为0μg的标准质量膜片测得的等效质量值进行对比,若两者之间误差超过±2%,将膜片再次放入纯氢氧化钾溶液中进行蚀刻,然后取出测试,反复蚀刻测试,直至将膜片蚀刻到测出的等效质量值与标准质量为0μg的标准质量膜片测得的等效质量值之间的误差在±2%以内;3)进行粘接的前处理,向膜片边缘处涂氢氧化钠溶液并保持一段时间,对膜片边缘处进行清洁;4)将膜片放入蒸馏水中冲洗;5)将外框的张紧齿向上顶起;6)将固化胶利用点胶筒涂布在外框项起的张紧齿下表面上,将膜片平放到张紧齿下表面上并压实,将外框和膜片整体进行加热使固化胶固化;7)将外框的张紧齿整平,将膜片绷紧;8)将膜片的标准质量标签粘贴到外框的标签栏上。
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