发明名称 |
一种具有改善耐压特性的集成电路 |
摘要 |
本发明提供一种集成电路,其包括过压检测电路和开关型电路,所述过压检测电路根据预先设定的检测阈值电压检测施加于所述集成电路上的电源电压是否过压,在检测到所述电源电压过压时输出过压保护信号非使能所述开关型电路。与现有技术相比,本发明的集成电路中增加了过压检测电路,该过压检测电路用于检测施加给该集成电路的电源电压是否出现过压,当检测到电源电压过压时,及时关断开关型电路和/或发热较大的功率电路,以提高该集成电路的耐压能力,从而使芯片不易损坏。 |
申请公布号 |
CN102983559A |
申请公布日期 |
2013.03.20 |
申请号 |
CN201210475932.2 |
申请日期 |
2012.11.21 |
申请人 |
无锡中星微电子有限公司 |
发明人 |
王钊 |
分类号 |
H02H7/20(2006.01)I |
主分类号 |
H02H7/20(2006.01)I |
代理机构 |
无锡互维知识产权代理有限公司 32236 |
代理人 |
戴薇 |
主权项 |
一种集成电路,其特征在于,其包括过压检测电路和开关型电路,所述过压检测电路根据预先设定的检测阈值电压检测施加于所述集成电路上的电源电压是否过压,在检测到所述电源电压过压时输出过压保护信号非使能所述开关型电路。 |
地址 |
214135 江苏省无锡市新区太湖国际科技园清源路530大厦A区10层 |