发明名称 用于实施循环冗余校验的系统和方法
摘要 本申请涉及用于实施循环冗余校验的系统和方法。在一个方面,提供循环冗余校验(CRC)校验器,其包含唯一模式检测器、CRC产生器、CRC初始化器和CRC验证器。所述CRC校验器预填充所述CRC产生器以获得唯一模式。当在经由数字传输链路所接收的数据流内接收到所述唯一模式时,所述CRC校验器继续校验CRC而无需对数据进行排队和存储。在另一方面,提供CRC产生器系统,其有意地破坏CRC值以传输系统误差信息。所述CRC产生器系统包含CRC产生器、CRC破坏器、误差检测器和误差值产生器。在一个实例中,所述数字传输链路是MDDI链路。
申请公布号 CN102983937A 申请公布日期 2013.03.20
申请号 CN201210449348.X 申请日期 2005.11.23
申请人 高通股份有限公司 发明人 布赖恩·斯蒂尔;乔治·A·威利
分类号 H04L1/00(2006.01)I;H04L29/06(2006.01)I 主分类号 H04L1/00(2006.01)I
代理机构 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人 王允方;刘国伟
主权项 一种在主机系统内的循环冗余校验(CRC)产生器系统,其包括:CRC产生器,其基于待包含在将经由数字传输链路传输的数据包中的数据来产生CRC值;CRC破坏器,其破坏由所述CRC产生器产生的CRC值,以传达主机状态信息或相关系统状态信息;误差检测器,其检测主机系统内的误差状况,并为所述CRC破坏器提供有意破坏CRC值的指令。
地址 美国加利福尼亚州