发明名称 |
用于实施循环冗余校验的系统和方法 |
摘要 |
本申请涉及用于实施循环冗余校验的系统和方法。在一个方面,提供循环冗余校验(CRC)校验器,其包含唯一模式检测器、CRC产生器、CRC初始化器和CRC验证器。所述CRC校验器预填充所述CRC产生器以获得唯一模式。当在经由数字传输链路所接收的数据流内接收到所述唯一模式时,所述CRC校验器继续校验CRC而无需对数据进行排队和存储。在另一方面,提供CRC产生器系统,其有意地破坏CRC值以传输系统误差信息。所述CRC产生器系统包含CRC产生器、CRC破坏器、误差检测器和误差值产生器。在一个实例中,所述数字传输链路是MDDI链路。 |
申请公布号 |
CN102983937A |
申请公布日期 |
2013.03.20 |
申请号 |
CN201210449348.X |
申请日期 |
2005.11.23 |
申请人 |
高通股份有限公司 |
发明人 |
布赖恩·斯蒂尔;乔治·A·威利 |
分类号 |
H04L1/00(2006.01)I;H04L29/06(2006.01)I |
主分类号 |
H04L1/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 |
代理人 |
王允方;刘国伟 |
主权项 |
一种在主机系统内的循环冗余校验(CRC)产生器系统,其包括:CRC产生器,其基于待包含在将经由数字传输链路传输的数据包中的数据来产生CRC值;CRC破坏器,其破坏由所述CRC产生器产生的CRC值,以传达主机状态信息或相关系统状态信息;误差检测器,其检测主机系统内的误差状况,并为所述CRC破坏器提供有意破坏CRC值的指令。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |