| 摘要 |
Eine Testplatte (1) zum Testen eines Leistungsmoduls (2), das eine Leistungshalbleitervorrichtung (3) und eine Erfassungseinheit (4, 5) zum Erfassen von Eigenschaften der Leistungshalbleitervorrichtung (3) enthält, enthält eine Leistungsquellenschaltung (8), die dem Leistungsmodul (2) eine elektrische Leistung zuführt, eine Treiberschaltung (9), die die Leistungshalbleitervorrichtung (3) treibt, eine Anzeigeeinheit (10), die ein Erfassungssignal anzeigt, das von der Erfassungseinheit (4, 5) eingegeben wird, und ein Substrat (7), auf dem die Leistungsquellenschaltung (8), die Treiberschaltung (9) und die Anzeigeeinheit (10) angebracht sind.
|
