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<p>Ein Verfahren zum Ermitteln von Testmengen von Betriebsparameterwerten für eine elektronische Komponente, wobei das Verfahren Folgendes aufweist: Ermitteln einer ersten Menge von Zwischenmengen, wobei jede Zwischenmenge eine Kombination von einer ersten Anzahl von Parametern enthält, ausgewählt aus einer vordefinierten Parametermenge, wobei die Parametermenge eine vordefinierte Anzahl von Parametern aufweist, wobei die Parameter Betriebsparameter der elektronischen Komponente repräsentieren und jeder Parameter eine Anzahl von Parameterwerten aufweist; Ermitteln einer zweiten Menge von Referenzmengen, wobei die zweite Menge eine Vereinigung von Mengen ist, wobei jede Menge alle möglichen Kombinationen von Parameterwerten für die Parameter einer jeweiligen Zwischenmenge aufweist; Auswählen einer dritten Menge mit einer zweiten Anzahl von Testmengen aus einer Menge von vordefinierten Mengen, wobei jede vordefinierte Menge eine unterschiedliche Kombination der Parameterwerte für alle Parameter der vordefinierten Parametermenge beinhaltet, so dass die zweite Menge einer Untermenge einer Vereinigung von einer Anzahl von Mengen ist, wobei jede Menge alle möglichen Kombinationen der ersten Anzahl von Parameterwerten für alle Parameter einer entsprechenden Testmenge aufweist, wobei die Anzahl der Mengen der zweiten Anzahl von Testmengen innerhalb der dritten Menge gleicht.</p> |
