发明名称 |
芯片音频模块测试系统和测试方法 |
摘要 |
本发明涉及音频测试技术,具体公开一种芯片音频模块测试系统和测试方法,其利用芯片自身的模块性能,将ADC模块与DAC模块两种测试结合在一起,其利用DAC模块去播放标准音频信号,ADC模块将信号采集回来进行分析,由此判断芯片音频模块是否合格。由于摆脱了测试仪器的限制,本发明较好地实现了量产芯片的自动化测试,有利于提高出货芯片的质量。 |
申请公布号 |
CN102967817A |
申请公布日期 |
2013.03.13 |
申请号 |
CN201110257152.6 |
申请日期 |
2011.09.01 |
申请人 |
安凯(广州)微电子技术有限公司 |
发明人 |
黄杰成;葛保建;胡胜发 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
李赞坚;曹志霞 |
主权项 |
一种芯片音频模块测试系统,芯片包括中央处理单元、ADC模块及与DAC模块,其特征在于,ADC模块与DAC模块之间通过一外部电路连接,其中:DAC模块用于播放标准音频信号,得到DAC播放信号;ADC模块用于采集DAC播放信号,得到ADC采集数据;中央处理单元用于根据预设策略计算ADC采集数据的性能指标,并与相应标准值进行比较,分析芯片音频模块是否合格。 |
地址 |
510663 广东省广州市萝岗区广州科学城科学大道182号创新大厦C1区3楼 |