发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明提供一种半导体装置及其制造方法。例如在形成了单位单元的Si外延层上形成贯通该Si外延层的接触孔。然后使其内壁氧化,形成膜厚大致均匀的薄绝缘膜。隔着该绝缘膜,在接触孔内埋入低电阻多晶硅形成接触层,从而形成兼作对准标记的背面取出电极的结构。
申请公布号 CN101877356B 申请公布日期 2013.03.13
申请号 CN200911000159.9 申请日期 2009.12.18
申请人 株式会社东芝 发明人 小池英敏;幸山裕亮
分类号 H01L27/146(2006.01)I;H01L23/485(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I 主分类号 H01L27/146(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 陈萍
主权项 一种半导体装置,包括:半导体基板;背面取出电极,在贯通所述半导体基板的接触孔内,隔着形成为具有均匀膜厚的绝缘膜埋入第1导电材料,用于在所述半导体基板的背面侧取出还用作对位用标记的电极;以及焊盘,设置在所述半导体基板的背面,与所述背面取出电极连接,所述电极用电阻比所述第1导电材料低的第2导电材料来置换所述第1导电材料。
地址 日本东京都