发明名称 一种SMD封装滤波器测试座
摘要 本实用新型公开了一种SMD封装滤波器测试座,底板(1)上表面有第一覆铜区域(6)、第二覆铜区域(7)和第三覆铜区域(8),第一覆铜区域(6)和第二覆铜区域(7)上分别连接有被测件固定片(4),在第三覆铜区域(8)中心与第一覆铜区域(6)和第二覆铜区域(7)相邻位置焊接有小铜块(5),有二个标准接头(2)分别固定在底板(1)的两端中间位置,二个标准接头(2)的接头内芯分别焊接在第一覆铜区域(6)和第二覆铜区域(7)上,安装脚焊接在第三覆铜区域(8)上;解决了SMD封装滤波器测试时采用常规触点或焊接方式所带来的机械损伤、接触不良、接地面积不够、固定不牢、容易造成较大的测试数据误差等问题。
申请公布号 CN202794245U 申请公布日期 2013.03.13
申请号 CN201220501411.5 申请日期 2012.09.27
申请人 贵州航天计量测试技术研究所 发明人 袁文;邱云峰
分类号 G01R1/04(2006.01)I 主分类号 G01R1/04(2006.01)I
代理机构 贵阳中新专利商标事务所 52100 代理人 吴无惧
主权项 一种SMD封装滤波器测试座,它包括底板(1),其特征在于:底板(1)上表面有第一覆铜区域(6)、第二覆铜区域(7)和第三覆铜区域(8),第一覆铜区域(6)和第二覆铜区域(7)上分别连接有被测件固定片(4),在第三覆铜区域(8)中心与第一覆铜区域(6)和第二覆铜区域(7)相邻位置焊接有小铜块(5),有二个标准接头(2)分别固定在底板(1)的两端中间位置,二个标准接头(2)的接头内芯分别焊接在第一覆铜区域(6)和第二覆铜区域(7)上,安装脚焊接在第三覆铜区域(8)上。
地址 550009 贵州省贵阳市小河区红河路7号