发明名称 |
一种功率器件的制作方法 |
摘要 |
一种功率器件的制作方法,属于半导体功率器件技术领域。本发明利用LOCOS(局部氧化)工艺来生长场氧化层来制作功率器件(尤其是终端结构),利用硅与氮化硅同氧气的反应速度的差异来局部生长场氧化层,在场氧边缘处会形成一个鸟嘴状的平缓台阶,这有利于后续薄膜的覆盖,利于提高器件(尤其是终端部分)的可靠性,制作过程中可以通过控制反应时间、反应温度和反应气体比例来控制氧化层的厚度及边缘鸟嘴区宽度,因此还有利于图形精度的提高。 |
申请公布号 |
CN102969249A |
申请公布日期 |
2013.03.13 |
申请号 |
CN201210430641.1 |
申请日期 |
2012.11.01 |
申请人 |
电子科技大学 |
发明人 |
李泽宏;杨文韬;单亚东;顾鸿鸣;张金平;任敏 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01)I;H01L21/331(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 |
成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 |
代理人 |
李顺德;王睿 |
主权项 |
一种功率器件的制作方法,包括以下步骤:1)硅片去除自然氧化层;2)在硅片表面热生长一层垫氧缓冲层;3)沉积氧化阻挡层;4)光刻氧化阻挡层;5)氧化生长场氧化层;6)去除氧化阻挡层;7)场限环注入并退火;8)有源区刻蚀并注入;9)热氧化生长栅氧化层;10)沉积多晶硅栅;11)光刻多晶硅栅;12)基区注入并退火;13)源区注入并退火;14)沉积介质层;15)刻蚀接触孔;16)体区注入并退火;17)沉积正面金属;18)刻蚀正面金属;19)沉积钝化层;20)刻蚀PAD孔;21)背面工艺。 |
地址 |
611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号 |