发明名称 |
超高频硅锗异质结双极晶体管 |
摘要 |
本发明公开了一种超高频硅锗异质结双极晶体管,包括有一集电区、一基区和一发射区。集电区通过离子注入工艺形成于一N型深阱中,N型深阱是通过在硅半导体衬底上通过N型杂质离子注入形成的。集电区两侧由场氧化层隔离,在场氧化层中用刻蚀工艺开口形成一场氧化层深阱,一集电极通过氧化层深阱接触而引出。基区包括一本征基区和一外基区,由硅锗外延层形成,本征基区和集电区相连接。发射区形成于所述本征基区上并和所述本征基区相连接,由多晶硅外延层形成。本发明能大幅度的减少器件的面积,能够减少工艺成本。 |
申请公布号 |
CN102044560B |
申请公布日期 |
2013.03.13 |
申请号 |
CN200910201691.0 |
申请日期 |
2009.10.16 |
申请人 |
上海华虹NEC电子有限公司 |
发明人 |
钱文生 |
分类号 |
H01L29/73(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/08(2006.01)I;H01L21/331(2006.01)I;H01L21/265(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/73(2006.01)I |
代理机构 |
上海浦一知识产权代理有限公司 31211 |
代理人 |
丁纪铁 |
主权项 |
一种超高频硅锗异质结双极晶体管,其特征在于:包含:一集电区,通过离子注入工艺形成于一N型深阱中,所述N型深阱是通过在硅半导体衬底上注入N型杂质离子而形成的,所述集电区两侧由场氧化层隔离,在场氧化层中用刻蚀工艺开口形成一场氧化层深阱,一集电极通过氧化层深阱接触而引出;一基区,包括一本征基区和一外基区,由硅锗外延层形成,所述本征基区和所述集电区相连接,所述外基区用于形成基区电极;一发射区,形成于所述本征基区上并和所述本征基区相连接,由多晶硅外延层形成。 |
地址 |
201206 上海市浦东新区川桥路1188号 |