发明名称 用于光子计数探测器的事件共享恢复
摘要 光子计数探测器可能受到脉冲共享效应和荧光光子产生的影响,这些效应可能会导致测量信号劣化。根据本发明的示范性实施例,提供了一种探测器装置,其适于通过比较相邻单元的探测事件进行并发探测和校正,由此实现并发事件识别,并继之以个别的并发校正。为了减少并发探测和每个探测器装置的对应单元数量,可以采用特定的探测器单元几何形状。
申请公布号 CN101600974B 申请公布日期 2013.03.13
申请号 CN200880003815.8 申请日期 2008.01.28
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 R·普罗克绍
分类号 G01T1/29(2006.01)I 主分类号 G01T1/29(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 邬少俊;王英
主权项 一种用于执行并发探测和校正的探测器装置(200),所述探测器装置(200)包括:第一探测器单元(201)和第二探测器单元(202),所述第一探测器单元适于探测第一脉冲,产生第一探测数据,所述第二探测器单元适于探测第二脉冲,产生第二探测数据;以及并发探测和校正单元(203),耦合到所述第一和第二探测器单元并适于探测所述第一和第二脉冲的并发;其中,如果探测到并发,则所述并发探测和校正单元(203)还适于对所述第一探测数据进行校正,其中,所述探测器装置(200)还包括适于探测第三脉冲的第三探测器单元(204);并且其中,所述第一、第二和第三探测器单元(201,202,204)的形状使得所述第一和第二脉冲的并发可能性大于所述第一和第三脉冲的并发可能性,其中,所述并发探测和校正单元(203)还包括用于测量所述第一和第二脉冲的脉冲形状相似性的测量装置,并且其中,所述第一探测器单元(201)适于产生对应于所述第一脉冲的第一测量结果和第二测量结果;其中,所述第一测量结果对应于所述第一脉冲的第一时间,并且其中,所述第二测量结果对应于所述第一脉冲的第一能量;其中,所述第二探测器单元(202)适于产生对应于所述第二脉冲的第三测量结果和第四测量结果;其中,所述第三测量结果对应于所述第二脉冲的第二时间,并且其中,所述第四测量结果对应于所述第二脉冲的第二能量;其中,以以下方式进行所述并发的探测:如果所述第一脉冲和第二脉冲的相似性测量结果超过用于探测脉冲共享的相似性测量的阈值(Ts)且所述第一时间和第二时间的绝对差低于用于脉冲共享的允许时间窗口(T1),且所述第一能量和第二能量之和不超过用 于X射线光子的最大能量(Te),则假设是脉冲共享;如果所述第一时间和第二时间的绝对差低于用于荧光的允许时间窗口(T2),且所述第一能量或第二能量对应于所采取的荧光能量水平之一,且所述第一能量和第二能量之和不超过用于X射线光子的最大能量(Te),则假设是荧光;如果脉冲共享或荧光被探测到且具有最高的优先级,则进行所述第一探测数据的校正。
地址 荷兰艾恩德霍芬