发明名称 超声波测量方法和装置
摘要 通过从合格品的观测对象物(2)的波形信号生成的模板数据和从未测量的观测对象物得到的波形信号的比较,来校正观测对象物上产生的时间相位差,并进一步检测与模板数据的差异。作为第1阶段,通过使用了所生成的模板数据的长区间模板数据来对未测量的观测对象物进行好坏判断(步骤S31~S33),校正时间相位差(步骤S34)。接着,作为第2阶段,根据以时间轴分割后的短区间模板数据与同样分割后的观测对象物的波形信号来进行好坏判断(步骤S35、S36)。由此,校正观测对象物(合格品和不合格品)间产生的时间相位差,并可通过与合格品的波形信号的比较来进行高精度的好坏判断。
申请公布号 CN101542279B 申请公布日期 2013.03.13
申请号 CN200880000125.7 申请日期 2008.03.26
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 小松真介;上田阳一郎
分类号 G01N29/44(2006.01)I;G01N29/04(2006.01)I 主分类号 G01N29/44(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 汪惠民
主权项 一种超声波测量方法,检测对具有多个界面的被检体物照射超声波而产生的波形信号,来观测所述被检体物的边界面的接合状态,在与照射所述超声波的方向正交的XY平面内的整个区域或一部分,按截面结构、材质和厚度与所述被检体物相同的基准物体的每个观测地点,将所述基准物体的波形信号整个或从所述基准物体的界面部附近观测到的波形信号作为基准信号而分别保存在基准信号存储部中;通过运算部,取得在与所述基准物体的所述观测地点对应的所述被检体物的观测地点,且能从预先已知的厚度和超声波的音速来限定发生时间区域的观测对象的界面部附近取得的超声波波形信号;通过比较运算从所述被检体物取得的所述超声波波形信号和所述基准信号而求出相对值,从而通过所述运算部来观测所述边界面的接合状态时,在向具有所述多个界面的所述被检体物照射超声波而从所述被检体物观测的波形信号与所述基准信号之间通过所述运算部进行比较运算处理,并将两个波形信号最一致的点作为基准点,从而在通过所述运算部校正每个观测的波形信号上产生的时间相位差后,在预先指定的所述XY平面内,比较规定时间区域内的波形成分,通过判断部进行好坏判断。
地址 日本大阪府