发明名称 |
采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置以及方法 |
摘要 |
本发明提供了一种采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置,包括导电原子力探针、电源、探针控制器、第一电流计、第二电流计、样品台以及样品;样品置于样品台上,样品内部包括一界面;电源、导电原子力探针和样品相互串联组成了第一电学回路,第一电流计测量此第一电学回路中的电流;样品下表面和样品上表面通过外接导线组成第二电学回路,第二电流计用于测量此第二电学回路中的电流,探针控制器与导电原子力探针以及样品连接,用于捕捉导电原子力探针与样品之间的力学信号。 |
申请公布号 |
CN102279288B |
申请公布日期 |
2013.03.13 |
申请号 |
CN201110182014.6 |
申请日期 |
2011.06.30 |
申请人 |
中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
发明人 |
徐耿钊;刘争晖;钟海舰;樊英民;徐科 |
分类号 |
G01Q60/24(2010.01)I |
主分类号 |
G01Q60/24(2010.01)I |
代理机构 |
上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 |
代理人 |
孙佳胤;翟羽 |
主权项 |
一种采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置,其特征在于,包括导电原子力探针、电源、探针控制器、第一电流计、第二电流计、样品台以及样品;样品置于样品台上,样品内部包括一界面;电源、导电原子力探针和样品相互串联组成了第一电学回路,第一电流计测量此第一电学回路中的电流;样品下表面和样品上表面通过外接导线组成第二电学回路,第二电流计用于测量此第二电学回路中的电流,探针控制器与导电原子力探针以及样品连接,用于捕捉导电原子力探针与样品之间的力学信号。 |
地址 |
215125 江苏省苏州市工业园区独墅湖高教区若水路398号 |