发明名称 |
配合原料的水分测定方法 |
摘要 |
本发明提供一种配合原料的水分测定方法,其是采用3波长式红外线水分计的配合原料的含有水分测定方法,其中,作为比被水吸收的波长λW长的长波长侧参照波长λL和比所述波长λW短的短波长侧参照波长λS的参照波长组合,采用所述配合原料的含有水分量w和吸光度k的关系式k=aw+b中的b不依赖于所述配合前原料的配合比率、且在所述红外线水分计的容许测定误差的范围内所述b被看作为零的参照波长组合。 |
申请公布号 |
CN102084239B |
申请公布日期 |
2013.03.13 |
申请号 |
CN200980125874.7 |
申请日期 |
2009.07.07 |
申请人 |
新日铁住金株式会社 |
发明人 |
杉浦雅人;矢野正树;松本俊司;国永学 |
分类号 |
G01N21/35(2006.01)I;C22B1/16(2006.01)I;G01N21/27(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/35(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
陈建全 |
主权项 |
一种配合原料的水分测定方法,其是采用3波长式红外线水分计的配合原料的含有水分测定方法,其特征在于:作为比被水吸收的波长λW长的长波长侧参照波长λL和比所述波长λW短的短波长侧参照波长λS的参照波长组合,采用所述配合原料的含有水分量w和吸光度k的关系式k=aw+b中的b不依赖于配合前原料的配合比率、且在所述红外线水分计的容许测定误差的范围内所述b被看作为零的参照波长组合;所述参照波长组合是通过如下工序选择的,该工序包括:假设多个作为所述长波长侧参照波长λL的候补的长波长侧参照波长候补λL’的工序;每当采用多个所述长波长侧参照波长候补λL’的每一个时,对处于水分已被除去的状态的多种配合前原料的每一种的吸光度k0进行测定的工序;每当采用多个所述长波长侧参照波长候补λL’的每一个时,对所述多种配合前原料的每一种的所述吸光度k0的平方和除以所述配合前原料的种数得出的值即k0平方和平均值进行计算的工序;以及从所述多个长波长侧参照波长候补λL’中,选择所述k0平方和平均值为0.001以下的长波长侧参照波长候补λL’作为所述长波长侧参照波长λL的工序。 |
地址 |
日本东京 |