发明名称 |
一种真空两段式测试结构 |
摘要 |
本实用新型公开了一种真空两段式测试结构,其包括上针板、下针板、电磁铁、上模挂钩、下模钩座、长针、短针、驱动板,上针板、下针板分别位于一个印制电路板的上下两侧,长针的长度大于短针的长度,电磁铁位于一个下针板的一端,上模挂钩与下模钩座连接,下模钩座与电磁铁电连接,长针、短针位于印制电路板的下方且与下针板垂直,上模挂钩、上针板都固定在驱动板的下方。本实用新型降低制造成本和减小空间,且对探针没有任何影响,还能快速的转换测试。 |
申请公布号 |
CN202794252U |
申请公布日期 |
2013.03.13 |
申请号 |
CN201220486443.2 |
申请日期 |
2012.09.21 |
申请人 |
张艳 |
发明人 |
张艳 |
分类号 |
G01R1/067(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/067(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种真空两段式测试结构,其特征在于,其包括上针板、下针板、电磁铁、上模挂钩、下模钩座、长针、短针、驱动板,上针板、下针板分别位于一个印制电路板的上下两侧,长针的长度大于短针的长度,电磁铁位于一个下针板的一端,上模挂钩与下模钩座连接,下模钩座与电磁铁电连接,长针、短针位于印制电路板的下方且与下针板垂直,上模挂钩、上针板都固定在驱动板的下方。 |
地址 |
518000 广东省深圳市宝安区观澜镇竹村福庭工业区3栋2楼 |